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紅外線(xiàn)氣體分析儀的原理
日期：2025-04-22 03:43
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摘要：
紅外線(xiàn)氣體分析儀的原理，是利用紅外線(xiàn)進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。 1．比爾定律 紅外線(xiàn)氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線(xiàn)垂直穿透它，則能量衰減的量為：I=I0e-KCL(比爾定律) 式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度； I0--紅外線(xiàn)通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度； K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)； C--待分析組分的氣體濃度； L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度) 對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線(xiàn)氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線(xiàn)通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定；氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出：通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。
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